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Resuelta

Equipamiento para Sistema de Focalización de Haces de Iones (FIB) integrado en microscopio SEM-FEG con rutinas de preparación de muestras TEM, Tomografía, Estereografía, Catadoluminiscencia, Medidas In-Situ y Reconstrucción/Tomografía y Prototipado 3D FEDBID, con destino al Instituto de Microscopía Electrónica y Materiales (IMEYMAT) de la Universidad de Cádiz. PAIDI. ID – 5764

Presupuesto Base

564.812,88

Sin Impuestos

564.812,88

Importe Total

683.423,58

Contratación: 20/07/2021
Actualización: 22/07/2021 17:35
Categoría: Microscopios electrónicos de barrido.

Ubicación

Cádiz

Contacto y Plazos

Fecha Límite Presentación

11/05/2021 23:59h

Horario de soporte técnico de la Plataforma de lunes a jueves, de 9 a 19 horas. El viernes, de 9 a 1...

Duración

6 Meses

Criterios de Adjudicación

Inclusión de los cambios de cañón FEG durante el periodo de garantía. 6%
Sistema para navegación automatizada sobre distintas zonas de la muestra para mejorar la localización rápida y precisa de zonas concretas de la muestra. 1%
Sistema automático, controlado por software. Descripción completa del criterio de adjudicación en el apartado J. del Resumen de Características del Pliego de cláusulas administrativas particulares 2%
Posibilidad de registrar imágenes SEM y STEM en tiempo real. Descripción completa del criterio de adjudicación en el apartado J. del Resumen de Características del PCAP. 3%
Incluir en la oferta al menos 50 rejillas Mo. 0.5%
Integración del software de control del nanomanipulador en el software de control del microscopio. 1%
Precio 15%
Incorporación de un detector STEM. Descripción completa del criterio de adjudicación en el apartado J. del Resumen de Características del Pliego de cláusulas administrativas particulares 3%
Se incorporarán elementos de hardware y software necesarios. Descripción completa del criterio de adjudicación en el apartado J. del Resumen de Características del PCAP. 5%
Rango de movimientos motorizados de la pletina y capacidad de muestras. Se valorará el rango de movimientos en XY, en Z, rango de inclinaciones, rango de rotación y capacidad de carga de muestras. 1%
Sistema de electrolitografía. Descripción completa del criterio de adjudicación en el apartado J. del Resumen de Características del Pliego de cláusulas administrativas particulares 6%
TOF-SIMS que permita mapas de elementos químicos.Descripción completa del criterio de adjudicación en el apartado J. del Resumen de Características del Pliego de cláusulas administrativas particulares 18%
Ampliación del período de garantía. 15%
Asistencia técnica una vez finalizado la garantía: Se valorará el precio, la cobertura, el periodo de ejecución. 5%
Nanomanipulador. Descripción completa del criterio de adjudicación en el apartado J. del Resumen de Características del Pliego de cláusulas administrativas particulares 2.5%
Corriente del haz de electrones igual o superior a 400nA de manera que permita análisis mediante catodoluminiscencia en muestras con una baja señal fotónica 2%
Incorporará un sistema integrado de limpieza por plasma (Plasma-cleaner), Descripción completa del criterio de adjudicación en el apartado J. del Resumen de Características del PCAP. 3%
Emisión garantizada del cañón FEG por mínimo de 2 años tras todas las sustituciones de este elemento fungible, una vez transcurrido el período mínimo de garantía. 3%
Inyector para deposición de SiO2 y de carbono 6%
Reducción del plazo de ejecución 2%

Requisitos de Solvencia

Económica

Volumen anual de negocios de los tres últimos concluidos, qué referido al año de mayor volumen de negocio, cumpla alcance al menos el porcentaje mínimo del 70% sobre el presupuesto base de licitación.

Técnica

  • Relación de los principales suministros efectuados, del mismo tipo o naturaleza al que corresponde e...

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