Suministro e instalación de un sistema de medida del perfil de la resistencia propagada (Spreading Resistance Profiling) para la caracterización de perfiles de dopaje en profundidad en semiconductores, destinado al Instituto de Microelectrónica de Barcelona de la Agencia Estatal Consejo Superior de Investigaciones Científicas, M.P
Presupuesto Base
580.000,00€
Sin Impuestos
580.000,00€
Importe Total
701.800,00€
⬥ Adjudicaciones
Documentación
30126 22 PPT.pdf
Pliego Prescripciones Técnicas
PCAP LICITACION 30126 22.pdf
Pliego Cláusulas Administrativas
Acta Valoración Doc Licitador Mejor Valorado
Documento General
Acta Eco 04 10 22
Documento General
Informe de valoración de los criterios de adjudicación cuantificables mediante juicio de valor
Documento General
Acta Tec 20 09 22
Documento General
Acta Adm 13 09 22
Documento General
Documento de aprobación del expediente
Documento General
Memoria justificativa
Documento General
Acuerdo de iniciación del expediente
Documento General
Ubicación
Barcelona
Contacto y Plazos
Fecha Límite Presentación
Duración
6 Meses
Criterios de Adjudicación
Requisitos de Solvencia
Económica
Según anexo 3 del PCAP.
Técnica
- Según anexo 3 del PCAP.